某外資工業(yè)制造行業(yè)客戶，創(chuàng)立已近150年，致力于各類建筑中的商用及民用供暖/制冷系統(tǒng)及零部件的研發(fā)生產(chǎn)。

	LCR測試儀IM3533 測量頻率1mHz~200kHz  1 ，最快2ms測試時間。在變壓器、線圈的測量中，可以運算并顯示初級和次級的L測量、線圈匝數(shù)比，消除需要手動計算的麻煩。IM3533-01還具有頻率掃描測試功能。
	多路轉(zhuǎn)換器ZC3001   搭配LCR測試儀或阻抗分析儀IM35XX系列使用，用于各類電子零部件、電感、電容、共模濾波器、掃描儀等測試?？芍С譁y試頻率最大10MHz，切換時間1ms?？墒褂肞LC的I/O輸出控制，支持每個通道分別進行補償。通過配套應(yīng)用軟件CN040輕松進行設(shè)置。

4端子開爾文夾9140-1  DC~200kHz  2 ，50Ω，1m長的開爾文夾，適用于方便夾持的被測物在較低頻段下的測試。

 1  多測試頻段需求請與日置聯(lián)絡(luò)，我們將協(xié)助您進行選型。

 2  高頻段下測試推薦使用4端子探頭L2000（DC~8MHz）

本場景中客戶的痛點是消除誤差以及多個被測物的測試效率問題。

如何消除誤差？為了將回路中存在的4m引線帶來的影響盡可能降低，需要設(shè)置Load補償，測試電容的特性參數(shù)時，選擇Cp-D選項。測試被測物的初始值后得到基準(zhǔn)參數(shù)并輸入儀器。

如何提升元器件的測試效率？

搭配多路轉(zhuǎn)換器ZC3001后，拓展了LCR測試儀的通道數(shù)，快速完成多個被測物的LCR測試，相比單通道及手動切換的測試方案能夠節(jié)省大量時間，有效提高老化試驗的測試效率。

LCR在元器件的老化試驗中的應(yīng)用

老化測試是元器件QC過程中的重要環(huán)節(jié)之一，目的是通過模擬元器件在實際使用過程中可能遇到的惡劣環(huán)境條件，如通過高溫、濕度、振動等環(huán)境應(yīng)力的綜合作用，提前暴露元器件的缺陷和潛在問題。因此，老化試驗往往是一種對被測物狀態(tài)進行長時間評估的過程，回路內(nèi)部以及外部的干擾因素均會對測試帶來不利影響，進行合理的補償功能設(shè)置并使用多通道的測試設(shè)備往往能夠有效提高此類試驗過程中的測試效率。