某高新技術(shù)企業(yè)客戶，聚焦于半導體器件和電驅(qū)系統(tǒng)的研發(fā)。運營總部位于上海市，目前已在國內(nèi)及海外多處設(shè)立研發(fā)生產(chǎn)中心。已與目前國內(nèi)多家主流整車廠及新能源客戶達成長期合作。

IM系列LCR測試儀/阻抗分析儀

測試頻率范圍覆蓋1mHz~3GHz，結(jié)合豐富的治具選件可滿足多樣化的測試需求。中低頻段（約5MHz以下）的IM35XX系列采用平衡電橋法，基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）；
中高頻段（約5MHz以上）的阻抗分析儀IM758X系列采用RF-IV測試方法，基本精度Z:±0.65 % rdg. θ: ±0.38°。

使用IM系列LCR/阻抗分析儀搭配相應的治具進行電感的Ls參數(shù)測試，并且可選擇帶引腳元器件專用測量治具，有效提升測試精度。從元器件的研發(fā)端到各類檢測機構(gòu)中都有廣泛的應用

接線示例

測試結(jié)果

使用基于電橋法的LCR測試儀IM35XX系列，或基于RF-IV法阻抗分析儀IM758X系列進行定頻測試、繪制掃頻曲線和等效回路分析等功能。

電抗器的靜態(tài)測試和動態(tài)測試

靜態(tài)測試指的是電抗器在未工作狀態(tài)下的測試，主要于研發(fā)階段中進行。通過LCR或阻抗分析儀測試電抗器的頻率特性和等效回路。這種方法相對簡單，易于操作，且不會對電抗器產(chǎn)生額外的能耗和熱

量。其測試結(jié)果也能夠驗證電抗器的基本性能。動態(tài)測試則在電抗器工作狀態(tài)下進行，在不同負載和頻率下測試電抗器感量變化。由于功率因數(shù)低，且相位角接近90°，加之開關(guān)器件的高頻化發(fā)展趨勢，往往需要用到能實現(xiàn)高精度測試的設(shè)備。這種測試方法能夠更真實地反映電抗器在實際運行中的性能，對于可靠性的評估具有重要意義。通過動態(tài)測試，可以更好地掌握電抗器在不同負載和頻率下的感量變化，確保其長期穩(wěn)定性和可靠性。

評估電抗器的電感損耗的目的是？

如今高頻電感的應用非常廣泛，例如EV和HEV中，從電池到變頻器的升壓DC/DC逆變器、電池充電電路中的AC/AC逆變器等。為了實現(xiàn)系統(tǒng)整體的高效率化，需要對各個回路中的效率進行評估和改善。在回路中，造成損耗占比最高的部件一般而言就是電感，這些電感大多被使用在高頻開關(guān)上。開關(guān)頻率方面，以往如IGBT等開關(guān)器件的頻率往往在10kHz左右，進年來隨著SiC和GaN等元件的實用化，超過100kHz的開關(guān)頻率也變成了可能。

以下是電感損耗靜態(tài)測量的原理和方法：

電感總損耗 = 銅損（電感繞組損耗）+ 鐵損（磁芯損耗）

銅損（Copper loss）=IRMS2 * RDC（mΩ）/1000

鐵損（Iron loss）一般在電感供應商的出廠參數(shù)中提供（與電感值有關(guān)）