作為全球電氣測(cè)量領(lǐng)域的領(lǐng)跑者，HIOKI 日置將攜全場(chǎng)景電池測(cè)試解決方案重磅亮相第十七屆中國(guó)國(guó)際電池技術(shù)交流會(huì) / 展覽會(huì)（CIBF 2025）。本屆展會(huì)以 “鏈動(dòng)全球?賦能綠色?驅(qū)動(dòng)未來” 為主題，預(yù)計(jì)吸引超3000家產(chǎn)業(yè)鏈企業(yè)及40萬專業(yè)觀眾，聚焦新能源電池技術(shù)迭代與產(chǎn)業(yè)升級(jí)。HIOKI日置將通過前沿技術(shù)展示、行業(yè)趨勢(shì)洞察與深度互動(dòng)體驗(yàn)，與全球合作伙伴共探電池產(chǎn)業(yè)的智能化、高效化與可持續(xù)化的變革之路。

一、聚焦行業(yè)痛點(diǎn)，HIOKI日置定義電池測(cè)試新標(biāo)桿

當(dāng)前，新能源電池產(chǎn)業(yè)正面臨高能量密度需求與安全風(fēng)險(xiǎn)并存、快充技術(shù)突破與生產(chǎn)效率瓶頸、固態(tài)電池商業(yè)化與測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)缺失等核心挑戰(zhàn)。HIOKI日置憑借90年測(cè)量技術(shù)沉淀，以高精度、高可靠性、智能化的解決方案，為電池研發(fā)、生產(chǎn)、運(yùn)維全生命周期提供關(guān)鍵支撐：

1)      研發(fā)與質(zhì)量控制：

電池漿料導(dǎo)電特性的全頻域量化分析：LCR測(cè)試儀IM3536，覆蓋DC，4Hz~8MHz寬頻范圍，支持±0.05% rdg精度與1ms高速測(cè)量，可對(duì)漿料中的活性物質(zhì)-導(dǎo)電劑-粘結(jié)劑復(fù)合體系進(jìn)行阻抗掃描，通過分析精準(zhǔn)評(píng)估：例，導(dǎo)電劑網(wǎng)絡(luò)的連通性（如碳納米管 / 乙炔黑的分散狀態(tài)）；離子傳輸通道的均勻性（如 NMP 溶劑殘留對(duì)離子遷移的影響）；界面極化效應(yīng)（活性物質(zhì)與導(dǎo)電劑間的接觸電阻）等。

另外，其連續(xù)測(cè)量功能可在1臺(tái)設(shè)備上，一次性實(shí)現(xiàn)一個(gè)元件中不同條件的檢查，更好的節(jié)省空間和簡(jiǎn)化系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。

電極片的品質(zhì)管理：電極電阻測(cè)試系統(tǒng)RM2610，專為鋰電池（LIB）電極片設(shè)計(jì)，通過46探頭陣列與有限體積法的電位分布反向推導(dǎo)，將LIB正極 · 負(fù)極片的電阻分離為敷料層電阻和界面電阻，使這些原本不可見的“界面電阻”變得可視化，可有效捕捉：例，涂層厚度不均；導(dǎo)電劑團(tuán)聚；界面接觸不良等關(guān)鍵信息。

2)      生產(chǎn)與產(chǎn)線優(yōu)化：

注液前后的精準(zhǔn)篩查，杜絕誤檢風(fēng)險(xiǎn)：電極間絕緣不良會(huì)造成火花危險(xiǎn)，通過直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀 ST5680EOL / 高阻計(jì) SM7120，對(duì)被測(cè)物施加電壓測(cè)量絕緣電阻，來發(fā)現(xiàn)金屬異物混入或隔離破損等問題。

注液后的施加電壓可能會(huì)對(duì)電池造成損壞，通過直流電壓計(jì) DM7275 / 7276，測(cè)量正極與外包裝之間的邊電壓來發(fā)現(xiàn)負(fù)極與外包裝間的漏液或短路等問題，防止電池壽命的縮短。

高精度判定焊接和連接質(zhì)量：焊接不良時(shí)，連接處的電阻會(huì)變大，充放電時(shí)會(huì)發(fā)生較大熱損耗。因此，需要通過測(cè)量電池連接處·母線的電阻來確認(rèn)焊接的質(zhì)量，電阻計(jì) RM3545A配備1000 μΩ 量程，最小分辨率為 1 nΩ，達(dá)到了 ±0.045% rdg ±0.010% f.s.的高精度，無需預(yù)熱或調(diào)零即可保證精度，啟動(dòng)后可立即開始精確測(cè)量。另外，與 SW1002 掃描模塊機(jī)架組合使用時(shí)，最多可支持 132 個(gè)通道（4端子法），滿足產(chǎn)線多通道測(cè)量的需求。

3)      運(yùn)維與安全保障：

老化試驗(yàn)·運(yùn)行狀態(tài)的評(píng)估：當(dāng)電池模塊電壓提升、電池?cái)?shù)量增多時(shí)，多點(diǎn)測(cè)量成為確保系統(tǒng)安全與性能的必要技術(shù)手段，通過同時(shí)測(cè)量多點(diǎn)溫度·熱流·電壓，準(zhǔn)確掌握電池特性和溫度·發(fā)熱的關(guān)系，以掌握電池老化狀態(tài)。數(shù)據(jù)采集儀 LR8450通過增加直連單元，最多可達(dá)120個(gè)通道（LR8101/8102系列，電壓和溫度可達(dá)3000通道），能以1ms采樣率測(cè)量電流、CAN、電壓、溫度、應(yīng)變、濕度、電阻等各種傳感器的輸出電壓，即使在逆變器等高壓高頻的附近也能穩(wěn)定測(cè)量，大幅降低了干擾的影響。

電芯熱失控測(cè)試：數(shù)據(jù)采集儀LR8450支持1ms高速采樣率，可同時(shí)連接330個(gè)通道的溫度傳感器（如熱電偶、熱敏電阻）和電壓探頭，實(shí)時(shí)記錄電芯表面、內(nèi)部及周圍環(huán)境的溫度變化，以及電芯電壓波動(dòng)。

例如，在撞擊、針刺實(shí)驗(yàn)中，LR8450能捕捉到溫度以每秒數(shù)十?dāng)z氏度的速率上升，并同步記錄電壓驟降或異常波動(dòng)，為分析熱失控的觸發(fā)條件提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)，從而規(guī)避熱擴(kuò)散對(duì)人員可能造成的危險(xiǎn)。

二、技術(shù)亮點(diǎn)搶先看：解碼行業(yè)熱點(diǎn)，勇做未來先行者

1)      固態(tài)電池測(cè)試突破：

粉體阻抗測(cè)量系統(tǒng)：當(dāng)前，作為車載次世代電池的熱門方向，采用固態(tài)電解質(zhì)的全固態(tài)電池備受期待。HIOKI日置推出的粉末阻抗測(cè)量系統(tǒng)，正是這樣一款專門針對(duì)固態(tài)電池高頻阻抗特性與干電極工藝而研發(fā)的產(chǎn)品，可同步測(cè)量電池材料研究中至關(guān)重要的阻抗、厚度、壓制壓力三大參數(shù)。

憑借緊湊的設(shè)計(jì)，該系統(tǒng)可在空間受限的手套箱（或干燥箱）內(nèi)完成安裝與運(yùn)行。由于無需從手套箱中取出樣品即可完成所有操作，大幅提升了電池開發(fā)過程中的安全性、可靠性與作業(yè)效率，為全固態(tài)電池研究提供了重大價(jià)值。

2)      電池循環(huán)經(jīng)濟(jì)的數(shù)據(jù)支撐：

退役電芯狀態(tài)精準(zhǔn)評(píng)估與健康度分級(jí)：從污染防控到碳中和，再?gòu)馁Y源循環(huán)經(jīng)濟(jì)到政策法規(guī)扶持，種種因素的驅(qū)動(dòng)下，使得電池回收成為目前行業(yè)最為聚焦的熱點(diǎn)之一。

EIS阻抗分析系統(tǒng) CN011，憑借寬頻阻抗掃描技術(shù)（0.01Hz~20kHz）和0.1mΩ 高精度測(cè)量能力，以及高頻AC-IR測(cè)試可捕捉電芯內(nèi)部微短路或界面失效等安全隱患，例如通過高頻半圓直徑的異常增大，定位極片間接觸不良或電解質(zhì)分解產(chǎn)物累積問題。EIS阻抗分析系統(tǒng)在電池回收的分選環(huán)節(jié)中，為電芯一致性篩查、潛在缺陷檢測(cè)、壽命預(yù)測(cè)模型構(gòu)建等提供了重要的數(shù)據(jù)支撐。

另外，基于EIS數(shù)據(jù)，量化電芯容量衰減與阻抗增長(zhǎng)的關(guān)聯(lián)性，為梯次利用的剩余壽命（RUL）評(píng)估提供依據(jù)。

HIOKI日置自1986年起開始研發(fā)和制造電池領(lǐng)域的檢測(cè)儀器，為電池企業(yè)提供從上游材料分析檢測(cè)、到電池研發(fā)生產(chǎn)、電池老化檢測(cè)以及電池回收的整套測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)量解決方案。深耕電池領(lǐng)域38年，日置與電池頭部企業(yè)緊密合作，共同解決電池檢測(cè)難題，助力高密度能量高安全電池的升級(jí)創(chuàng)新，為電池安全和能源轉(zhuǎn)型保駕護(hù)航。

誠(chéng)邀蒞臨 11號(hào)館 11T017 展位，共話電池產(chǎn)業(yè)新未來！

三、邀您參與日置90周年限定打卡活動(dòng)，有機(jī)會(huì)贏取大獎(jiǎng)！

2025年1月2日，【日置90周年】限定打卡活動(dòng)已經(jīng)正式啟動(dòng)，凡是參與在活動(dòng)期間推出的任意線下/線上活動(dòng)（需包含“日置90周年”字樣），掃描活動(dòng)二維碼提交即完成1次打卡。

此次CIBF電池展，來HIOKI日置展臺(tái)11T017即可完成1次打卡！點(diǎn)擊查看詳情